繼續關注：環境試驗設備的可靠性測試分析篇下

繼續關(guan) 注：環境試驗設備的可靠性測試分析篇下

皓天高低溫試驗箱同一種產(chan) 品，在不同的階段，測試條件也不一樣；一般而言，產(chan) 品會(hui) 經過研發、小批量試產(chan) 、批量生產(chan) 三個(ge) 不同的階段。在研發階段，測試條件zui嚴(yan) （應力zui大）、測試延續的時候zui短；小批量試產(chan) 階段，測試應力適中、測試時間適中；批量生產(chan) 階段，測試應力zui小、測試時間較短；三個(ge) 階段的主要差別見下表：

階段實驗目的實驗特點實驗要求 
研發發現設計缺陷，擴大設計餘(yu) 量高應力、短時間* 
中試考察產(chan) 品是否達到基本的可靠性水平中應力、中長時間無明顯故障 
批量生產(chan) 生產(chan) 工藝條件的穩定性低應力、短時間有條件的允許故障發生 
鑒定鑒定產(chan) 品的可靠性、計算產(chan) 品的MTBF低應力、長時間無特別要求 
加速環境試驗技術 
傳(chuan) 統的環境試驗是基於(yu) 真實環境模擬的試驗方法，稱為(wei) 環境模擬試驗。這種試驗方法的特點是：模擬真實環境，加上設計裕度，確保試驗過關(guan) 。其缺陷在於(yu) 試驗的效率不高，並且試驗的資源耗費巨大。
加速環境試驗AET(AcceleratedEnvironmentalTesting)是一項新興(xing) 的可靠性試驗技術。該技術突破了傳(chuan) 統可靠性試驗的技術思路，將激發的試驗機製引入到可靠性試驗，可以大大縮短試驗時間，提高試驗效率，降低試驗耗損。加速環境試驗技術領域的研究與(yu) 應用推廣對可靠性工程的發展具有重要的現實意義(yi) 。 
加速環境試驗(皓天高低溫試驗箱)
激發試驗(Stimulation)通過施加激發應力、環境快速檢測來清除產(chan) 品的潛在缺陷。試驗所施加的應力並不模擬真實環境，而以提高激發效率為(wei) 目標。
加速環境試驗是一種激發試驗，它通過強化的應力環境來進行可靠性試驗。加速環境試驗的加速水平通常用加速因子來表示。加速因子定義(yi) 為(wei) 設備在自然服役環境下的壽命與(yu) 在加速環境下的壽命之比。
施加的應力可以是溫度、振動、壓力和濕度(即所謂“四綜合”)及其它應力，應力的組合亦是有些場合更為(wei) 有效的激發方式。高溫變率的溫度循環和寬帶隨機振動是*zui有效的激發應力形式。加速環境試驗有2種基本類型：加速壽命試驗(AcceleratedLifeTesting)、可靠性強化試驗(ReliabilityEnhancementTesting)。
可靠性強化試驗(RET)用以暴露與(yu) 產(chan) 品設計有關(guan) 的早期失效故障，但同時，也用於(yu) 確定產(chan) 品在有效壽命期內(nei) 抗隨機故障的強度。加速壽命試驗的目的是找出產(chan) 品是如何發生、何時發生、為(wei) 何發生磨耗失效的。 
下麵分別對2種基本類型進行簡單闡述。(皓天高低溫試驗箱)
1、加速壽命試驗(ALT)
加速壽命試驗隻對元器件、材料和工藝方法進行，用於(yu) 確定元器件、材料及生產(chan) 工藝的壽命。其目的不是暴露缺陷，而是識別及量化在使用壽命末期導致產(chan) 品損耗的失效及其失效機理。有時產(chan) 品的壽命很長，為(wei) 了給出產(chan) 品的壽命期，加速壽命試驗必須進行足夠長的時間。
加速壽命試驗是基於(yu) 如下假設：即受試品在短時間、高應力作用下表現出的特性與(yu) 產(chan) 品在長時間、低應力作用下表現出來的特性是一致的。為(wei) 了縮短試驗時間，采用加速應力，即所謂高加速壽命試驗(HALT)。
加速壽命試驗提供了產(chan) 品預期磨損機理的有價(jia) 值數據，這在當今的市場上是很關(guan) 鍵的，因為(wei) 越來越多的消費者對其購買(mai) 的產(chan) 品提出了使用壽命要求。估計使用壽命僅(jin) 僅(jin) 是加速壽命試驗的用處之一。它能使設計者和生產(chan) 者對產(chan) 品有更全麵的了解，識別出關(guan) 鍵的元器件、材料和工藝，並根據需要進行改進及控製。另外試驗得出的數據使生產(chan) 廠商和消費者對產(chan) 品有充分的信心。 
加速壽命試驗的對象是抽樣產(chan) 品。
2、可靠性強化試驗(RET)
可靠性強化試驗有許多名稱和形式，如步進應力試驗、應力壽命試驗(STRIEF)、高加速壽命試驗(HALT)等。RET的目的是通過係統地施加逐漸增大的環境應力和工作應力，來激發故障和暴露設計中的薄弱環節，從(cong) 而評價(jia) 產(chan) 品設計的可靠性。因此，RET應該在產(chan) 品設計和發展周期中zui初的階段實施，以便於(yu) 修改設計。 
國外可靠性的有關(guan) 研究人員在80年代初就注意到由於(yu) 設計潛在缺陷的殘留量較大，給可靠性的提高提供了可觀的空間，另外價(jia) 格和研製周期問題也是當今市場競爭(zheng) 的焦點。研究證明，RET不失為(wei) 解決(jue) 這個(ge) 問題的方法之一。它獲得的可靠性比傳(chuan) 統的方法高得多，更為(wei) 重要的是，它在短時間內(nei) 就可獲得早期可靠性，無須像傳(chuan) 統方法那樣需要長時間的可靠性增長(TAAF)，從(cong) 而降低了成本。