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AEC-Q101認證包含了分立半導體(ti) 元件應力測試要求的定義(yi) 和參考測試條件,目的是要確定一種器件在應用中能夠通過應力測試以及被認為(wei) 能夠提供某種級別的品質和可靠性。
根據AEC-Q101E-2021新版規範,認證測試通用項目大大小小算起來共有37項,但並非所有的測試項目都需要測試,需要依據不同的器件類型,封裝形式,安裝方式等等來選擇要進行的測試項目。
AEC-Q101標準將試驗項目分為(wei) 5個(ge) 大組,以某型號SOT23封裝的MOSFET為(wei) 例,AEC-Q101認證應選擇哪些測試項目和條件,以及不選擇此項目的原因說明,以下是按組介紹需要測試項目的清單。
Group A加速環境應力試驗共有10個(ge) 項目,AC高壓和 H3TRB高溫高濕反偏做為(wei) 可選項可不用進行,PTC功率溫度循環在IOL間隙壽命不能滿足才做,TCDT溫循分層試驗和TCHT溫循熱試驗不適用在銅線連接的器件上執行測試。
Group B加速壽命模擬試驗共有4個(ge) 項目,ACBV交流阻斷電壓僅(jin) 適於(yu) 晶閘管,SSOP穩態運行僅(jin) 適於(yu) TVS二極管。
Group C封裝完整性試驗15個(ge) 項目,TS端子強度適用於(yu) 通孔引線零件的引線完整性,RTS耐溶劑性對於(yu) 激光蝕刻或無標記器件不用進行。CA恒定加速,VVF變頻振動,MS機械衝(chong) 擊,HER氣密性這四項適用於(yu) 氣密封裝的零件。