三箱式冷熱衝擊試驗箱電子芯片IC變化檢測

三箱式冷熱衝(chong) 擊試驗箱電子芯片IC變化檢測

三箱分別分為(wei) 高溫箱，低溫箱，測試箱，采取*的自動切換方式，讓產(chan) 品在測試區接受高溫和低溫的檢驗，為(wei) 產(chan) 品的技術改良提供有效依據。

主要用於(yu) 產(chan) 品在瞬間低溫和瞬間高溫情況下，檢測產(chan) 品的忍耐能力和耐環境破壞能力。冷熱衝(chong) 擊試驗箱適用範圍：LED,電池，電子，電工，化工，汽車，數碼，電腦，塑膠，玻璃等產(chan) 品和零配件。

三箱式冷熱衝(chong) 擊試驗箱價(jia) 格的箱體(ti) 結構：

高低溫衝(chong) 擊試驗箱全部功能采用計算機控製，係自主開發的軟件，有良好的操作界麵，使用戶的操作和監測都更加簡單和直觀，保持功能可以使你正在運行的程序保持在目前的狀態下，可以臨(lin) 時更改此程序段的數值，可以在屏幕上設置時間的參數，使製冷、加熱、提藍傳(chuan) 送切換，按設定值自動進行。
冷箱、熱箱獨立控製，箱門互相獨立，擴大試驗箱的使用範圍（一箱三用）。
產(chan) 品保溫效果可以得到充分保證。
試驗箱門與(yu) 循環風機，提藍傳(chuan) 動等互鎖，保護操作者的**一旦打開箱門，循環風機和提藍傳(chuan) 動的電源會(hui) 被自動切斷。在箱頂有標準引線孔管，方便用戶向箱內(nei) 引入傳(chuan) 感器線，檢測電纜等類型引線。

三箱式冷熱衝(chong) 擊試驗箱電子芯片IC變化檢測