50L高低溫衝擊試驗箱_物理傷害檢測

50L高低溫衝(chong) 擊試驗箱_物理傷(shang) 害檢測

 適用於(yu) 電工電子產(chan) 品，電子零部件的冷熱交替衝(chong) 擊試驗。產(chan) 品可滿足CNS、MIL、IEC、JIS、GB/T2423.是利用低溫及高溫蓄冷熱槽，依動作需要，將吊籃快速移動到冷熱槽內(nei) ,從(cong) 而達到快速溫度衝(chong) 擊效果,平衡調溫控製係統（BTC） 特殊設計之送風循環係統,以P.I.D.方式控製SSR,使係統之加熱量等於(yu) 熱損耗量,故能長期穩定的使用.

低溫槽溫度範圍：A：(-55～-10℃). B：(-65～ -10℃). D：(-80～ -10℃).
　　　實驗箱衝(chong) 擊溫度：高溫 +60～150℃低溫 A：(-10～ -40℃) B：(-10～ -55℃) D：( -10～ -65℃)升溫時間 
　　　60~200℃小於(yu) 35分降溫時間：A：+20～-55℃小於(yu) 75分 B：+20～-65℃小於(yu) 80分 D：+20～-75℃小於(yu) 90分.
　　　衝(chong) 擊恢複時間：高溫(150℃)衝(chong) 擊30分鍾
　　　低溫(-40℃or-55℃or-65℃)衝(chong) 擊30分鍾
　　　衝(chong) 擊恢複時間：5分鍾以內(nei)
　　　風門開啟時間：3秒以內(nei) 試樣
　　　重量：1.0Kg 2.5Kg 5Kg 8Kg 10Kg 15Kg

50L高低溫衝(chong) 擊試驗箱_物理傷(shang) 害檢測

參照標準

本試驗箱符合GB/T2423.1 低溫試驗方法、GB/T2423.2高溫試驗方法。GJB150.5-86溫度衝(chong) 擊試驗法 、GJB360A-96電子及電氣元件試驗方法。
GJB 150.3高溫試驗；GJB 150.4 低溫試驗；
GB10588-2006 高溫試驗箱技術條件；
GB10589-2006 低溫試驗箱技術條件；
GB/T10592高低溫試驗箱技術條件；
QC/T413-2002、GB2423.22、ISO16750-4、IEC60068-2-14標準中所要求的試驗